材料屏蔽性能測(cè)試系統(tǒng)
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產(chǎn)品名稱: 材料屏蔽性能測(cè)試系統(tǒng)
產(chǎn)品型號(hào): H4010A
產(chǎn)品展商: Haoluntech
產(chǎn)品文檔: 無相關(guān)文檔
簡(jiǎn)單介紹
材料屏蔽性能測(cè)試系統(tǒng)==材料屏蔽性能測(cè)試系統(tǒng)=>
->材料屏蔽效能測(cè)試
->材料介質(zhì)特性分析
材料屏蔽性能測(cè)試系統(tǒng)
的詳細(xì)介紹
系統(tǒng)簡(jiǎn)介
材料的屏蔽效能SE是指空間某點(diǎn)未加屏蔽時(shí)的電場(chǎng)強(qiáng)度EO(或電場(chǎng)強(qiáng)度HO、能量場(chǎng)強(qiáng)度PO)與
加屏蔽該點(diǎn)的電場(chǎng)強(qiáng)度E1(或電場(chǎng)強(qiáng)度H1、能量
場(chǎng)強(qiáng)度置P1)的比值，對(duì)于實(shí)際屏蔽材料，屏蔽效
能SE可表示為:SE=A+R+B, A, R, B三項(xiàng)表達(dá)式
如下表所示:
R一表示電磁波通過屏蔽表面時(shí)，由阻抗突變引起的反射損耗;
A一表示電磁波在屏蔽體內(nèi)部傳播時(shí)，電磁能量波吸收的損耗:
B一表示電磁波在屏蔽體的兩個(gè)界面的多次反射損耗。
測(cè)試項(xiàng)目:
1.小同軸測(cè)量法測(cè)試試驗(yàn)參照標(biāo)準(zhǔn):SJ20524-1995《材料屏蔽效能測(cè)量方法》
2.開窗法測(cè)試試驗(yàn)參照標(biāo)準(zhǔn):MIL-STD-285: 1956《用于電子試驗(yàn)的電磁屏蔽環(huán)境衰減方法沐
3.法蘭同軸傳輸線法測(cè)試試驗(yàn)參照標(biāo)準(zhǔn):SJ20524-1995《材料屏蔽效能測(cè)量方法》
4.材料特性測(cè)試
*注:擴(kuò)展項(xiàng)目(拱形測(cè)量法測(cè)試試驗(yàn)、防輻射屏蔽服屏蔽效能檢測(cè)試驗(yàn))
材料屏蔽性能測(cè)試系統(tǒng)
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